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XSL8004真空開關(guān)真空度測(cè)試儀真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷滅弧室真空度。而當(dāng)真空度劣化到 10-2 ----10 -1Pa 時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):711DS911真空開關(guān)真空度測(cè)試儀檢測(cè)各種型號(hào)真空開關(guān)管,采用新型勵(lì)磁線圈進(jìn)行真空度的不拆卸測(cè)量。不僅具有使用方便、操作簡(jiǎn)便、不拆卸測(cè)量和測(cè)試精度高等優(yōu)點(diǎn),是一種實(shí)用的檢測(cè)儀器,廣泛適用于電力、鋼鐵、石化、紡織、煤炭、鐵路等使用真空開關(guān)的部門。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):694WXZK-Ⅲ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-2----10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):634SGZK-D真空開關(guān)真空度測(cè)試儀真空斷路器是電力系統(tǒng)中普遍使用的高壓電器,其核心部件是真空滅弧室,由于滅弧室是以真空條件作為工作基礎(chǔ)的,所以它不象油開關(guān),SF6開關(guān)那樣容易檢測(cè)其質(zhì)量。傳統(tǒng)上,真空斷路器用戶判斷滅弧室真空度的方法是工頻耐壓法,這種方法只能粗略判斷真空度嚴(yán)重老化的滅弧室。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):645ZLKZKY-2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀真空斷路器是電力系統(tǒng)中普遍使用的高壓電器,其核心部件是真空滅弧室,由于滅弧室是以真空條件作為工作基礎(chǔ)的,所以它不象油開關(guān),SF6開關(guān)那樣容易檢測(cè)其質(zhì)量。傳統(tǒng)上,真空斷路器用戶判斷滅弧室真空度的方法是工頻耐壓法,這種方法只能粗略判斷真空度嚴(yán)重化的滅弧室。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):877ZKY-2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀真空斷路器是電力系統(tǒng)中普遍使用的高壓電器,其核心部件是真空滅弧室,由于滅弧室是以真空條件作為工作基礎(chǔ)的,所以它不象油開關(guān),SF6開關(guān)那樣容易檢測(cè)其質(zhì)量。傳統(tǒng)上,真空斷路器用戶判斷滅弧室真空度的方法是工頻耐壓法,這種方法只能粗略判斷真空開關(guān)的真空度。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):650ZKD-III真空開關(guān)真空度測(cè)試儀真空斷路器是電力系統(tǒng)中普遍使用的高壓電器,其核心部件是真空滅弧室,由于滅弧室是以真空條件作為工作基礎(chǔ)的,所以它不象油開關(guān),SF6開關(guān)那樣容易檢測(cè)其質(zhì)量。傳統(tǒng)上,真空斷路器用戶判斷滅弧室真空度的方法是工頻耐壓法,這種方法只能粗略判斷真空度嚴(yán)重化的滅弧室。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):600WDZK-Ⅳ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀是我公司在WDZK-Ⅲ型的基礎(chǔ)上根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)用戶的反映改進(jìn)的一代產(chǎn)品。它具有測(cè)試精度更高,穩(wěn)定性更好,智能化程度更高的特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):831WDZK-Ⅳ真空開關(guān)測(cè)試儀是我公司在WDZK-Ⅲ型的基礎(chǔ)上根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)用戶的反映改進(jìn)的一代產(chǎn)品。它具有測(cè)試精度更高,穩(wěn)定性更好,智能化程度更高的特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):745DVM-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀是真空滅弧室的真空度鑒定設(shè)備,它使用了脈沖磁控放電原理,采用單片計(jì)算機(jī)為主控單元進(jìn)行控制與數(shù)據(jù)采集全自動(dòng)化。采樣設(shè)計(jì)一改以往采用峰值做標(biāo)定的方法,而采用離子電荷來做標(biāo)定,更有效地控制了測(cè)試過程中瞬態(tài)電源的干擾,使測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。
更新時(shí)間:2024-08-11 訪問次數(shù):707